FE膜厚儀-FE-蘇州大塚電子(查看)

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

半積分球。大塚電子獨有專利，FE-3000，提高積分球測試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內獨i家）；(2)多次激發修正。大塚電子獨有專利，FE3000廠家，i大程度降低樣品所反射的激發光再次照射樣品帶來的多次激發， 對粉末和固體測試精度提高明顯（世界范圍內獨i家）；(3)光譜可擴展， 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統（-30℃-300℃）

本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行效率測試的系統。

FE3000反射式膜厚量測儀特點：寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應顯微鏡下的微距量測口徑。不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，FE，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數量5個），尺寸直徑≤10mm

本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行效率測試的系統。

     原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

光纖在極度彎曲后會有可能發生斷裂。故，FE膜厚儀，請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖，以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。

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