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手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發射管里發射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩定的離子。由于電子本能會尋求穩定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內所發射出來的X射線的數量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手持式光譜儀和便攜式光譜儀是一回事嗎？

手持式光譜儀和便攜式光譜儀不是同一種光譜儀。便攜式光譜儀分為手持式光譜儀和移動式光譜儀兩種。

前者屬于X射線熒光光譜儀，后者屬于直讀光譜儀。兩者均可鑒別金屬材料的牌號，廣泛應用于石油，化工，電廠，煤氣等行業的壓力容器，管道閥門安裝以及現場確認材料，也應用于廢料回收，混料檢驗篩選，以及原材料牌號確認，尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認以及定量測量元素。但前者不能測量非金屬元素例如C,S,P，后者因為屬于火花直讀光譜，可以另加一個紫外光室，所以可以現場測量非金屬元素C,S,P甚至N元素。

手持式光譜在鍍層測厚的應用

要使電鍍過程具有科技的或工業的價值，需要對電鍍過程進行控制，也就是要按照一定的工藝流程和工藝要求來進行電鍍，并且還要用到某些輔助設備和管理設備。若工件中鍍層厚度不達標，則會帶來很多壞處：對于陽極性鍍層，鍍層如果過薄可能會經不起犧牲腐蝕會先使基體產生銹蝕。而一個制件部分銹蝕后則已不合格。若為保證工件基體不生銹，只能加大鍍層厚度，而鍍層厚度過厚則會導致電鍍成本增大。