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發(fā)布時間：2020-12-31 07:40
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一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
鍍層厚度分析儀使用注意事項
1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上。
2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩(wěn)壓電源。計算機和儀器應配備不間斷電源（UPS）。
3．鍍層厚度分析儀應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。
4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過程中，環(huán)境溫度和濕度應保持恒定。
5．儀器曝曬在陽光下時溫度極易超過50℃。所以請不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。
6．為避免短路，嚴禁儀器與液體直接接觸。如果液體進入儀器，請立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請技術(shù)人員整體檢查儀器。
7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場合。
8．不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標準片，否則會造成讀數(shù)錯誤。
9．不要用任何機械或化學的方法清除元素片或調(diào)校標準片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。
江蘇一六儀器 XTU系列 XTU-BL X熒光光譜儀
儀器規(guī)格：
外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長x寬x高）
樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長x寬x高）
儀器重量 ：55kg
供電電源 ：交流220±5V
功率 ：330W
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境相對濕度：<70%
EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長和強度實現(xiàn)的， 根據(jù)不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡使用，可以對樣品進行微區(qū)成分分析。
常用的EDX探測器是硅滲鋰探測器。價格一直是客戶在購買時關(guān)心的問題，好質(zhì)量和售后服務(wù)的產(chǎn)品在價格上面往往比較高，所以客戶在選擇產(chǎn)品時選擇性價比高的就需要一定的了解，首先是品牌，其次是客戶調(diào)查，售后服務(wù)等。當特征X射線光子進入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離，產(chǎn)生若干電子-空穴對，其數(shù)量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對，經(jīng)過一系列轉(zhuǎn)換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，并計數(shù)能譜中每個能帶的脈沖數(shù)。
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江蘇一六儀器 選擇X熒光光譜鍍層檢測儀的四個理由：
1、無損檢測
鍍層工藝的高要求，讓楔切法、光截法等傳統(tǒng)的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是excellent鍍層無損檢測方法。
2、強化品質(zhì)管控
X熒光光譜鍍層檢測儀可以準確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數(shù)據(jù)，這是做好電鍍品質(zhì)管控的前提。
3、提升生產(chǎn)力
傳統(tǒng)的檢測技術(shù)，既耗時又耗人力，而X熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動力，且檢測速度快、精度高，這對提高電鍍企業(yè)生產(chǎn)力、節(jié)約成本有很大幫助，從而帶來更多的經(jīng)濟效益。
4、提升市場競爭力
X熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業(yè)提升勞動生產(chǎn)力，也可以幫助電鍍企業(yè)在行業(yè)里保持excellent的競爭優(yōu)勢。
