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KOAN 恒溫晶振頻率老化率

在恒定的環境條件下測量振蕩器頻率時，振蕩器頻率和時間之間的關系。這種長期頻率漂移是由晶體元件和振蕩器電路元件的緩慢變化造成的，因此，其頻率偏移的速率叫老化率，可用規定時限后的大變化率（如±10ppb/天，加電 72 小時后），或規定的時限內大的總頻率變化（如：±1ppm/（首年）和±5ppm/（十年））來表示。

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KOAN 溫補晶振和恒溫晶振的頻率老化率對比

說明： TCXO 的頻率老化率為： ±0.2ppm～±2ppm （首年）和±1ppm～±5ppm （十年） （除特殊情況，TCXO 很少采用每天頻率老化率的指標，因為即使在實驗室的條件下，溫度變化引起的頻率變化也將大大超過溫度補償晶體振蕩器每天的頻率老化，因此這個指標失去了實際的意義）。OCXO 的頻率老化率為： ±0.5ppb～±10ppb/天（加電 72 小時后），±30ppb～±2ppm（首年），±0.3ppm～±3ppm（十年）。

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KOAN 恒溫振蕩器 系列編號封裝尺寸解讀

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? KO3627T（S）：KO-KOAN*OCXO，3627-36.2*27.2直插封裝5引腳，T-HCMOS高速CMOS輸出，S-True Sine真正弦波輸出。

? KO2525T（S）：KO-KOAN*OCXO，2525-25.4*25.4 直插封裝 5 引腳，T-HCMOS 高速 CMOS 輸出，S-True Sine 真正弦波輸出。

? KO2020T（S）：KO-KOAN*OCXO，2020-20.3*20.3 直插封裝 5 引腳，T-HCMOS 高速 CMOS 輸出。S-True Sine 真正弦波輸出。

? KO2013T（S）：KO-KOAN*OCXO，2013-20.3*13.2 直插封裝 5 引腳，T-HCMOS 高速 CMOS 輸出。S-True Sine 真正弦波輸出。

? KO1409T：KO-KOAN*OCXO，1409-15.4*10.4*7.4 貼片封裝 6 引腳，T-HCMOS 高速 CMOS 輸出。

? KO0907T（CS）：KO-KOAN*OCXO，0907-9.7*7.5*4.0 貼片封裝 4 引腳，T-HCMOS 高速 CMOS 輸出，CS-削峰正弦波輸出。

KOAN 恒溫晶振是如何有效降低振蕩器的日頻率波動的

首先，選用性能十分穩定的晶體管，選用漏電流很小的晶體管；其次，幾乎晶體管的所有參數都與電源電壓有關，為振蕩器設計一個內部穩壓電源是穩定晶體管參數的重要手段；再次，晶體管的參數對溫度較敏感，提高恒溫槽質量水平。

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