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FCT功能測試系統(tǒng)概述

功能測試涉及負(fù)載、機(jī)構(gòu)、模擬、數(shù)字、存儲器、RF和電源電路，通常要用不同的測試策略。參考地單端測量電流在參考地單端RSE(ReferencedSingleEnded)測量系統(tǒng)中，被測量信號一端接模擬輸入通道，另一端接系統(tǒng)地(AIGND)。測試包括大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證（確定沒有硬件錯(cuò)誤），以彌補(bǔ)前面測試過程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵不斷加到被測單元（UUT）上，同時(shí)監(jiān)測同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng)，并完全控制其執(zhí)行過程。

FCT測試系統(tǒng)接口

每個(gè)被測對象(UUT)具有不同的信號激勵點(diǎn)和信號獲取點(diǎn)，這些都需要一個(gè)接口以實(shí)現(xiàn)UUT 和TE的信號連接，此接口即測試接口適配器ITA。ITA負(fù)責(zé)完成UUT 和TE 的機(jī)械與電氣連接，為TE各個(gè)信號點(diǎn)和UUT各個(gè)信號點(diǎn)路由路徑。

由于UUT的輸入輸出管腳數(shù)量較多，信號種類復(fù)雜，為滿足自動測試設(shè)備的通用性，在ITA設(shè)計(jì)時(shí)， 必須采用多通道開關(guān)，(1)是對PCB的信號通道進(jìn)行自動切換；(2)是對PCB的信號進(jìn)行調(diào)理，使調(diào)理后的信號能夠滿足測試儀器的量程范圍；(3)是對PCB和測試儀器的保護(hù)，避免操作失誤或外界干擾而對PCBA和測試設(shè)備造成損壞。測試包括大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證（確定沒有硬件錯(cuò)誤），以彌補(bǔ)前面測試過程遺漏的部分。

fct功能測試治具定位原理

以“邊/孔”定位對于面積尺寸較大的電路板，可以采用“邊/孔”定位，這也屬于約束性過定位的一種。定位板限制2個(gè)自由度，定位柱限制2個(gè)自由度。這種形式中，通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。

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以“孔/孔”定位

對于狹長形的UUT，由于其容易變形，使用上述1和2的方式均需要用到電路板的外緣輪廓，因此并不準(zhǔn)確，此時(shí)應(yīng)采用雙孔定位。注意對于變形較大的UUT，此孔的位置也不宜選在電路板的兩端，但兩孔間距也不宜過小，設(shè)計(jì)時(shí)定位柱和定位孔的間隙適量放大，一般在0.1mm～0.3mm。雖然由于此間隙的存在，定位精度會略有降低，但操作方便、制造簡單。綜上可見，電路板的定位對于治具設(shè)計(jì)極為重要，不同的定位方式直接影響到定位精度及測試設(shè)備的結(jié)構(gòu), 因此定位方式的選擇很重要。綜合考慮以上各種現(xiàn)行方案的優(yōu)缺點(diǎn)，設(shè)計(jì)為 “一面兩空”的定位方式，如下如所示，即利用UUT的一個(gè)平面和兩個(gè)（或多個(gè)）定位孔，特點(diǎn)是制取方法容易、夾具結(jié)構(gòu)簡單、制造加工容易,、滿足精度要求。